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光電陰極與光敏電阻分別是外光電效應和內光電效應原理在器件領域的成功應用范例。現代智能測試技術伴隨著計算機技術、自動控制技術的發展取得突破性進展，已被成功應用于光電器件的研制和生產中。本書以光電陰極與光敏電阻為例，詳細介紹了智能測試技術在光電器件的研制和生產中的應用。書中從GaN光電陰極光電發射機理，GaN光電陰極制備技術，GaN光電陰極光譜響應測試，GaN光電陰極穩定性測試評估，光敏電阻檢測裝置硬件設計，光敏電阻檢測裝置軟件設計等方面進行了詳細的介紹。最后總結并展望了以光電陰極與光敏電阻為代表的光電器件的現代化測試評估技術。
喬建良：南陽理工學院副教授，博士研究生。完成中國博士后基金項目1項，參與完成國家自然科學基金項目2項，完成省部級科研項目5項，取得科研成果獎2項，近年來在國內外重要學術刊物上發表學術論文30余篇，其中SCI收錄10余篇，EI收錄10余篇，出版教材5部。河南省高等學校青年骨干教師資助對象，南陽市學術技術帶頭人，中國百篇最具影響力國內學術論文獲得者，曾榮獲河南省自然科學優秀學術論文一等獎，南陽市青年科技獎。